Инвертируемый металлургический системный микроскоп GX51 позволяет проводить исследования в режимах светлого поля, темного поля, ДИК Номарского и простом поляризованном свете. Переключение между светлым/темным полем производится путем переключения удобно расположенного рычага. При проведении ДИК Номарского — просто вставьте ДИК слайдер в отведенный для него слот.
Широкое разнообразие дополнительных модулей легко подсоединяемых к GX51, позволяют проводить требуемые обновления системы: соединение с цифровой или видеокамерой через промежуточную тубус (
Так как микроскоп GX51 разработан для рутинных исследований, дизайн микроскопа полностью отвечает требованиям максимального удобства для оператора.
Микроскопы серии GX являются эргономичными, надежными инвертируемыми микроскопами, специально сконструироваными для выполнения всех
Превосходная технология использована в этих микроскопах не только для повышения точности результатов исследования, но также для простого и удобного управления. Все органы управления, в том числе полевая (FS) и апертурная (AS) диафрагмы, фокусировка и регулировка освещения сбалансированы и находятся «под рукой» пользователя.
Основание микроскопа
Новая оптическая система подсветки допускает различные типы источников света. Стандартный источник света 12V, 100W галогеновая лампа, 100W Hg, 75W Xe, 50W галоидная лампы являются опциями, и устанавливаются в зависимости от требуемых условий.
Фокусировка изображения достигается путем вертикального перемещения револьверного держателя объективов: механического или моторизированного шестипозиционного для светлого поля/DIC и механического или моторизированного пятипозиционного для светлого/темного поля и светлого поля/темного поля/DIC. Регулировка высоты револьвера объективов посредством роликовой направляющей. Точность фокусировки не зависит от веса предметного столика и образца.
Механический предметный столик приспособлен для работы как с широкими и высокими, так и с мелкими деталями. Широкий диапазон перемещения 50×50 мм в
Последняя разработка фирмы Olympus — зеркало, которое крепится под отверстие на которое устанавливается образец. Это позволяет быстро и точно определить местоположение места или дефекта требующего первоочередного рассмотрения, проведя установку образца для исследования сразу на конкретное место, что ранее было трудно выполнимо
